ממדד יבול (yield) ללמידה ארגונית
מרצה: דב פרי
הרכבת מעגלים אלקטרוניים PCBA (Printed Circuits Board Assembly) מהווה את אחד התהליכים הטכנולוגיים העיקריים בתעשיית האלקטרוניקה. לרמת השליטה והבקרה על התהליך יש השלכה מכרעת על איכות המוצר המוגמר.
הארגון הבינלאומי אי.פי.סי. פיתח מדד למדידת האיכות על פי באמצעות מדד ה- DPMO (Defects Per Million Opportunities) המציין את מספר הפגמים למיליון הזדמנויות.
לאחר הפעלת המדד בקווי יצור של מעגלים אלקטרוניים, נדרשים תהליכים של דווח ואיסוף פגמים הנוצרים והמתגלים במהלך היצור וכן כולל חישובים של רמות ההזדמנויות לתקלות בקטגוריות שונות. לימוד הממצאים והפעלת שיפור מתמיד על תהליך היצור ישיגו שליטה ובקרה טובות יותר בתהליך ורמת הפגמים תתייצב לרמה המתאימה ליכולת התהליך.
מתוך המידע ההיסטורי של המדד שנצבר בנוגע למעגלים אלקטרוניים ביצור שוטף, ניתן ללמוד ולהפעיל יישום לחיזוי רמות פגמים והיבול (yield) עבור מעגלים אלקטרוניים חדשים NPI ((New Product Introduction שאך הוצגו לאחר הפיתוח. לחיזוי היבול יש חשיבות רבה לצורך הבחינה של שתי הסוגיות הבאות:
א - מהו היבול או אחוז המעגלים שאמורים לעבור את תהליך ההרכבה בצורה חלקה ללא תקלות
ב - במידה והיבול המתקבל נמוך מהחזוי, ניתוח תהליכי המשנה של תהליך ההרכבה וקטגוריות הפגמים ששימשו לחישוב החיזוי יוכלו להצביע על הכיוונים שבהם תהליכי פיתוח דרכי הייצור של המעגל טעונים שיפור.
בהרצאה יוסבר המדד ותוצג דוגמת יישום חיזוי היבול.
